初めてのアナログ回路設計講座：高精度Ａ/Ｄ変換の極意（その1）【オンライン同時開催セミナ】
初めてのアナログ回路設計講座：高精度Ａ/Ｄ変換の極意（その1）【オンライン同時開催セミナ】
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【開催日】2024年11月5日(火) 10:00-17:00 1日コース
【セミナNo.】ES24-0096 【受講料】25,000円(税込)
【会場】東京・巣鴨 CQ出版社2Fセミナ・ルーム [地図]
【セミナNo.】ES24-0096 【受講料】25,000円(税込)
【会場】東京・巣鴨 CQ出版社2Fセミナ・ルーム [地図]
※本セミナはZoomを使ったオンライン同時開催セミナです．
オンライン受講を希望される場合は，セミナ申込後，メールでご連絡ください．
詳細は，オンライン同時開催セミナについてをお読みください．
ディジタルが発達した現在では，計測器や制御機器はMPUが中心的な役割をになっている．一方，MPUの判断・動作を決定するセンサ情報は，依然アナログ量である．当然MPUへの伝達には，Ａ/Ｄコンバータ（以下，ADC）によるこのアナログ量の数値化は必須ではあるが，MPUによる正しい判断・動作の度合いは数値化データの精度に依存することは論を待たない．
そこでこのセミナでは，Ａ/Ｄ変換に疎い方（専門がアナログ・ディジタルを問わない）を対象に，高精度なＡ/Ｄ変換を可能にする必須条件
①ADCの動作原理を知って適切なADCを選べる能力
②変換精度を阻害するADC周辺の誤差要因を知ってこれらを排除する方法
について，初心者からでも理解できる内容で解説する．
ちなみにセッション3は，講演者が前職において，20年間のリニアICユーザへ技術支援活動を通じて経験した，比較的高頻度に繰り返される問題にフォーカスしたものである．
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ディジタルが発達した現在では，計測器や制御機器はMPUが中心的な役割をになっている．一方，MPUの判断・動作を決定するセンサ情報は，依然アナログ量である．当然MPUへの伝達には，Ａ/Ｄコンバータ（以下，ADC）によるこのアナログ量の数値化は必須ではあるが，MPUによる正しい判断・動作の度合いは数値化データの精度に依存することは論を待たない．
そこでこのセミナでは，Ａ/Ｄ変換に疎い方（専門がアナログ・ディジタルを問わない）を対象に，高精度なＡ/Ｄ変換を可能にする必須条件
①ADCの動作原理を知って適切なADCを選べる能力
②変換精度を阻害するADC周辺の誤差要因を知ってこれらを排除する方法
について，初心者からでも理解できる内容で解説する．
ちなみにセッション3は，講演者が前職において，20年間のリニアICユーザへ技術支援活動を通じて経験した，比較的高頻度に繰り返される問題にフォーカスしたものである．
●対象聴講者
・測定器/測定システム（NCやプロセス制御）を手掛けるディジタル系技術者
・センサ自体を製作しているが回路の知識が浅い方
●講演の目標
・ADCの内部動作が分かり，今までブラック・ボックスとして扱っていた部品が既知のものとなる．
・自分のアプリでは，どのようなスペックが重要であり，どのようなADCを選べばよいかが分かる．
・回路図からは読めない色々な（物理的要因も含む）誤差源を知って対策が立てられる．
●内容
セッション1 各種ADCの変換原理とその使い分け
1.1 各種の変換方式
1.2 ΔΣとSARの使い分け
セッション2 目的の用途に関連するADCのスペックを徹底究明
2.1 ADCのノイズ性能
2.2 ADCの主要スペック
セッション3 高精度Ａ/Ｄ変換のための周辺部品の選び方
3.1 基準電圧ICの選び方と正しい評価方法
3.2 バッファ（アンプ）に使うOPアンプの選択方法
3.3 用途で変わるバッファのスルーレートとセトリング時間の重要性
セッション4 MUX入力ADCおけるセトリング・タイムの高精度な測定方法
4.1 エッジ・シフト方式によるセトリング・タイムの測定
4.2 RCフィルタによるメモリ効果の抑制方法
写真は製作したノイズ性能評価ボード
A/D変換誤差の外部要因を知る
●参考文献
・中村 黄三；『実験研究に!測る電子回路の作り方 』トランジスタ技術スペシャルNo.131，2015年6月，CQ出版社．
・測定器/測定システム（NCやプロセス制御）を手掛けるディジタル系技術者
・センサ自体を製作しているが回路の知識が浅い方
●講演の目標
・ADCの内部動作が分かり，今までブラック・ボックスとして扱っていた部品が既知のものとなる．
・自分のアプリでは，どのようなスペックが重要であり，どのようなADCを選べばよいかが分かる．
・回路図からは読めない色々な（物理的要因も含む）誤差源を知って対策が立てられる．
●内容
セッション1 各種ADCの変換原理とその使い分け
1.1 各種の変換方式
1.2 ΔΣとSARの使い分け
セッション2 目的の用途に関連するADCのスペックを徹底究明
2.1 ADCのノイズ性能
2.2 ADCの主要スペック
セッション3 高精度Ａ/Ｄ変換のための周辺部品の選び方
3.1 基準電圧ICの選び方と正しい評価方法
3.2 バッファ（アンプ）に使うOPアンプの選択方法
3.3 用途で変わるバッファのスルーレートとセトリング時間の重要性
セッション4 MUX入力ADCおけるセトリング・タイムの高精度な測定方法
4.1 エッジ・シフト方式によるセトリング・タイムの測定
4.2 RCフィルタによるメモリ効果の抑制方法
写真は製作したノイズ性能評価ボード
A/D変換誤差の外部要因を知る
●参考文献
・中村 黄三；『実験研究に!測る電子回路の作り方 』トランジスタ技術スペシャルNo.131，2015年6月，CQ出版社．
【受講者が持参するもの】
筆記用具
筆記用具
【講師】
中村 黄三 氏〔元日本テキサス・インスツルメンツ 上級主任技師 〕
医療機器メーカにて心電計・血圧計などの設計に従事したあと，1986年にバー・ブラウン（BB）の日本法人にアプリケーション・エンジニア課長として入社．2000年にテキサスインスツルメンツ（TI）がBBを買収後は，同社営業本部のフィールド・アプリケーション・エンジニア（FAE）部門で上級主任技師として定年の2007年まで勤務．その後，アナログ技術に関する教育専門職契約 により，2013年まで社内・顧客トレーニングに従事．また現在に至るまで，雑誌トランジスタ技術の記事も多数執筆してきている．
中村 黄三 氏〔元日本テキサス・インスツルメンツ 上級主任技師 〕
医療機器メーカにて心電計・血圧計などの設計に従事したあと，1986年にバー・ブラウン（BB）の日本法人にアプリケーション・エンジニア課長として入社．2000年にテキサスインスツルメンツ（TI）がBBを買収後は，同社営業本部のフィールド・アプリケーション・エンジニア（FAE）部門で上級主任技師として定年の2007年まで勤務．その後，アナログ技術に関する教育専門職契約 により，2013年まで社内・顧客トレーニングに従事．また現在に至るまで，雑誌トランジスタ技術の記事も多数執筆してきている．
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