●対象聴講者
・測定器/測定システム（NCやプロセス制御）を手掛けるディジタル系技術者
・センサ自体を製作しているが回路の知識が浅い方

●講演の目標
・ADCの内部動作が分かり，今までブラック・ボックスとして扱っていた部品が既知のものとなる．
・自分のアプリでは，どのようなスペックが重要であり，どのようなADCを選べばよいかが分かる．
・回路図からは読めない色々な（物理的要因も含む）誤差源を知って対策が立てられる．

●内容
セッション1 各種ADCの変換原理とその使い分け
　1.1 各種の変換方式
　1.2 ΔΣとSARの使い分け

セッション2 目的の用途に関連するADCのスペックを徹底究明
　2.1 ADCのノイズ性能
　2.2 ADCの主要スペック

セッション3 高精度Ａ/Ｄ変換のための周辺部品の選び方
　3.1 基準電圧ICの選び方と正しい評価方法
　3.2 バッファ（アンプ）に使うOPアンプの選択方法
　3.3 用途で変わるバッファのスルーレートとセトリング時間の重要性

セッション4 MUX入力ADCおけるセトリング・タイムの高精度な測定方法
　4.1 エッジ・シフト方式によるセトリング・タイムの測定
　4.2 RCフィルタによるメモリ効果の抑制方法


写真は製作したノイズ性能評価ボード


A/D変換誤差の外部要因を知る


●参考文献
・中村 黄三；『実験研究に!測る電子回路の作り方 』トランジスタ技術スペシャルNo.131，2015年6月，CQ出版社．