USB 3.2 10Gbps伝送を実現する物理層の基礎とその評価（講師実演付き）【オンライン限定セミナ】
USB 3.2 10Gbps伝送を実現する物理層の基礎とその評価（講師実演付き）【オンライン限定セミナ】
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【開催日】2020年9月4日(金) 10:00-17:00 1日コース
【セミナNo.】ES20-0075 【受講料】22,000円(税込)
【会場】オンライン限定セミナ
【セミナNo.】ES20-0075 【受講料】22,000円(税込)
【会場】オンライン限定セミナ
※本セミナはGoogle Meetを使ったオンライン限定セミナです。
詳細は、オンライン限定セミナについてを参照ください。
本セミナでは、USB 3.2の10Gbps物理層を支える技術を、オシロスコープで信号波形を観測しながら詳しく説明する。
・リセットや接続検出を行うLFPS（低周波周期信号）
・10Gbpsのサポートを通知するLBPM（LFPS Based PWM Message）
・TS1、TS2、TSEQなどの信号
・コネクタで捕捉した信号から伝送路モデルを使って受信端の波形、イコライザの効果を再現
・シンボル間干渉の実例（BSA12500ISI）
・TxEQを変えて、その効果と限界を見る
・リタイマ、クロック・データ・リカバリ（CDR）の効果
さらに、測定技術としてコンプライアンス・テストを実演しながら説明する。
・コンプライアンス・パターンを実波形を切り替えながら説明
・コンプライアンス・テスト：TxおよびRx双方を実施
USB 3.2 Gen2×1（10Gbps）のSSDのコンプライアンス・テスト風景
詳細は、オンライン限定セミナについてを参照ください。
本セミナでは、USB 3.2の10Gbps物理層を支える技術を、オシロスコープで信号波形を観測しながら詳しく説明する。
・リセットや接続検出を行うLFPS（低周波周期信号）
・10Gbpsのサポートを通知するLBPM（LFPS Based PWM Message）
・TS1、TS2、TSEQなどの信号
・コネクタで捕捉した信号から伝送路モデルを使って受信端の波形、イコライザの効果を再現
・シンボル間干渉の実例（BSA12500ISI）
・TxEQを変えて、その効果と限界を見る
・リタイマ、クロック・データ・リカバリ（CDR）の効果
さらに、測定技術としてコンプライアンス・テストを実演しながら説明する。
・コンプライアンス・パターンを実波形を切り替えながら説明
・コンプライアンス・テスト：TxおよびRx双方を実施
USB 3.2 Gen2×1（10Gbps）のSSDのコンプライアンス・テスト風景
●対象聴講者
USB 3.2をはじめ、高速シリアル・インタフェースの物理層技術および測定技術を理解したい方
●講演の目標
下記項目について理解すること
・SuperSpeed USB/SuperSpeed USB 10Gbps/SuperSpeed USB 20Gbpsの違い
・Gen1×1、Gen1×2、Gen2×1、Gen2×1の違い
・5Gbpsと10Gbpsの物理層技術の違い
・イコライザやリタイマの種類・原理・動作の違い
●内容
第1部 USB 3.2と10Gbpsを支える技術
1. USB 3.x規格の変遷
1.1 USB 3.0からUSB 3.1への変遷
1.2 USB 3.1からUSB 3.2への変遷
2. 10Gbpsの物理層
2.1 想定チャンネル・モデル
2.2 伝送路損失目標と配分
3. 5Gbpsと10Gbpsのトランシーバとレシーバの違い
3.1 符号化
3.2 スクランブラ／ディスクランブラ
3.3 SKPオーダード・セット
4. ポーリング
4.1 USB 3.0のポーリング
4.2 USB 3.1以降のポーリング
4.2.1 SCD1、SCD2
4.2.2 LBPM
5. USB 3.2により拡張された機能
5.1 レーン0と1
5.2 フォールバック優先順位
5.3 レーン間スキュー
6. イコライザとその効果
6.1 トランスミッタ・イコライザ
6.2 リファレンス・レシーバ・イコライザ
6.2.1 リニア・イコライザ（CTLE）
6.2.2 1タップDFE
6.3 イコライザの効果
7. リタイマ
7.1 USB 3.2でのリタイマ
7.1.1 リドライバ
7.1.2 ビット・レベル・リタイマ
7.1.3 SRISリタイマ
7.2 リタイマのレシーバ検出
7.3 アクティブ・ケーブル・アーキテクチャ
7.4 リタイマ：パススルー・ループバックとローカル・ループバック
第2部 USB 3.2の測定技術
8. コンプライアンス・テスト
8.1 プローブによる測定と規格
9. トランスミッタ・テスト
9.1 概要：使用する機材と接続
9.2 コンプライアンス・パターン
9.3 アイ・ダイアグラムとジッタ（TD1.3/1.4）
9.4 10Gbpsトランスミッタ・イコライザ（TD.1.5）
9.5 LFPS測定（TD.1.1）
9.6 SSC（TD.1.6/1.7）
10. レシーバ・テスト
10.1 概要、使用する機材と接続
10.2 ループバック
10.3 ジッタ耐性テスト（TD.1.8/1.9/1.10）
10.4 キャリブレーション
10.5 LFPS測定（TD.1.2）
USB 3.2 Gen2×1（10Gbps）のイコライザ適用後のアイ・ダイアグラム。
角々しているのがDFE（Decision Feedback Equalizer）の特徴
●講演の参考文献
以下の文献に目を通しておくと良い。
USB 3.2をはじめ、高速シリアル・インタフェースの物理層技術および測定技術を理解したい方
●講演の目標
下記項目について理解すること
・SuperSpeed USB/SuperSpeed USB 10Gbps/SuperSpeed USB 20Gbpsの違い
・Gen1×1、Gen1×2、Gen2×1、Gen2×1の違い
・5Gbpsと10Gbpsの物理層技術の違い
・イコライザやリタイマの種類・原理・動作の違い
●内容
第1部 USB 3.2と10Gbpsを支える技術
1. USB 3.x規格の変遷
1.1 USB 3.0からUSB 3.1への変遷
1.2 USB 3.1からUSB 3.2への変遷
2. 10Gbpsの物理層
2.1 想定チャンネル・モデル
2.2 伝送路損失目標と配分
3. 5Gbpsと10Gbpsのトランシーバとレシーバの違い
3.1 符号化
3.2 スクランブラ／ディスクランブラ
3.3 SKPオーダード・セット
4. ポーリング
4.1 USB 3.0のポーリング
4.2 USB 3.1以降のポーリング
4.2.1 SCD1、SCD2
4.2.2 LBPM
5. USB 3.2により拡張された機能
5.1 レーン0と1
5.2 フォールバック優先順位
5.3 レーン間スキュー
6. イコライザとその効果
6.1 トランスミッタ・イコライザ
6.2 リファレンス・レシーバ・イコライザ
6.2.1 リニア・イコライザ（CTLE）
6.2.2 1タップDFE
6.3 イコライザの効果
7. リタイマ
7.1 USB 3.2でのリタイマ
7.1.1 リドライバ
7.1.2 ビット・レベル・リタイマ
7.1.3 SRISリタイマ
7.2 リタイマのレシーバ検出
7.3 アクティブ・ケーブル・アーキテクチャ
7.4 リタイマ：パススルー・ループバックとローカル・ループバック
第2部 USB 3.2の測定技術
8. コンプライアンス・テスト
8.1 プローブによる測定と規格
9. トランスミッタ・テスト
9.1 概要：使用する機材と接続
9.2 コンプライアンス・パターン
9.3 アイ・ダイアグラムとジッタ（TD1.3/1.4）
9.4 10Gbpsトランスミッタ・イコライザ（TD.1.5）
9.5 LFPS測定（TD.1.1）
9.6 SSC（TD.1.6/1.7）
10. レシーバ・テスト
10.1 概要、使用する機材と接続
10.2 ループバック
10.3 ジッタ耐性テスト（TD.1.8/1.9/1.10）
10.4 キャリブレーション
10.5 LFPS測定（TD.1.2）
USB 3.2 Gen2×1（10Gbps）のイコライザ適用後のアイ・ダイアグラム。
角々しているのがDFE（Decision Feedback Equalizer）の特徴
●講演の参考文献
以下の文献に目を通しておくと良い。
書籍「USB 3.2のすべて」 | 書籍「USB Type-Cのすべて」 | |
雑誌「RFワールドNo.46」 | 雑誌「RFワールドNo.47」 | 雑誌「RFワールドNo.48」 |
【受講者が持参するもの】
不要
不要
【講師】
畑山 仁 氏〔テクニカル・コンサルタント、 元テクトロニクス社／ケースレーインスツルメンツ社〕
高速ディジタル，高速シリアル・インタフェース，最近では特にUSB 3.2，USB 4をサポート．執筆が多数あり，書籍としてはCQ出版社「PCI Express設計の基礎と応用」，「USB 3.0設計のすべて」，「USB Type-Cのすべて」，「USB 3.2のすべて」，またRFワールドNo.46から高速シリアル・インタフェースの記事を毎号掲載．
鈴木 克彦 氏〔テクトロニクス社／ケースレーインスツルメンツ社 アプリケーション・エンジニア〕
高速シリアル・インタフェース計測のスペシャリストとしてテクトロニクス社に勤務．SATA，USB，PCI Expressなど多くの規格のコンプライアンス・テストに精通．規格団体主催のプラグフェスタ，コンプライアンス・ワークショップにも豊富な参加経験を持つ．
畑山 仁 氏〔テクニカル・コンサルタント、 元テクトロニクス社／ケースレーインスツルメンツ社〕
高速ディジタル，高速シリアル・インタフェース，最近では特にUSB 3.2，USB 4をサポート．執筆が多数あり，書籍としてはCQ出版社「PCI Express設計の基礎と応用」，「USB 3.0設計のすべて」，「USB Type-Cのすべて」，「USB 3.2のすべて」，またRFワールドNo.46から高速シリアル・インタフェースの記事を毎号掲載．
鈴木 克彦 氏〔テクトロニクス社／ケースレーインスツルメンツ社 アプリケーション・エンジニア〕
高速シリアル・インタフェース計測のスペシャリストとしてテクトロニクス社に勤務．SATA，USB，PCI Expressなど多くの規格のコンプライアンス・テストに精通．規格団体主催のプラグフェスタ，コンプライアンス・ワークショップにも豊富な参加経験を持つ．
コース